De ontmoetingen, die tijdens de beurs daadwerkelijk zullen plaatsvinden, worden gearrangeerd op basis van door de leden zelf aangemaakte profielen. Deze profielen worden gelinkt aan exposanten, seminars, gesprekspartners en bezoekers die volgens het matchmaking-systeem passen bij de persoon in kwestie.
Business lounge
De afspraken worden centraal bijgehouden in een digitale agenda. De vakbeurs ICT & Logistiek vindt op 7 en 8 november plaats in de Utrechtse Jaarbeurs. Op de beursvloer wordt een speciale vLm-business lounge ingericht. Beurs Manager Paul Verdult: “Een beurs brengt vraag en aanbod bij elkaar. Op basis van vlijmscherpe profielen brengen we ‘de beste match’ tot stand. Matchmaking leidt tot supergericht beursbezoek. Belangrijkste voordeel is dat het bezoekers in contact brengt met exposanten, maar ook met andere bezoekers die ze anders nooit zouden hebben gesproken. De technologie doet de bezoeker buiten de eigen gebaande paden treden.”
Perfecte kans
Voorlopig biedt VNU Exhibitions deze mogelijkheid alleen aan vLm-leden aan. vLm is enthousiast over deze mogelijkheid van matchmaking. Directeur Rien Hagen van vLm: “Als beroepsvereniging behoort het creëren van een hoogwaardig netwerk- en kennisplatform voor discussie en kennisoverdracht tot onze doelen. Met de matchmaking op de vakbeurs ICT & Logistiek kunnen we deze doelstelling nog meer inhoud geven. Een perfecte kans dus voor onze leden om hun beursbezoek nog doeltreffender te maken.”
Maximaal rendement
De Matchmaking functionaliteit is ontwikkeld door 2MARK-IT. Stefan van Hoof, managing partner van dit bedrijf is zeer enthousiast over de vLm-Match. “Onze matchmakingsapplicatie biedt vLm-leden de mogelijkheid doelgericht hun tijd te besteden en in te delen. VNU Exhibitions als organiserende partij biedt hiermee het deelnemersveld van exposanten en bezoekers maximaal rendement. Deze online oplossing levert op basis van de specifieke profielvoorkeuren van de bezoeker, alle ingrediënten om dit mogelijk te maken binnen de eigen identiteit van ICT en Logistiek 2007.”
